Ebooks de Mario Birkholz en PDF

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Mario Birkholz Thin Film Analysis by X-Ray Scattering With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century are driven... Editeur : Wiley-VCH Parution : 2006-05-12 Format(s) : PDF 170,86 €

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